小焦斑X射線管的研究

2013-09-19 王奇志 公安部第一研究所

  X射線管焦斑是X射線管的主要性能指標。其大小直接影響射線成像及照相靈敏度。X 射線管作為X 射線檢測設備的發(fā)射源,其性能直接決定了檢查設備對物體的圖像分辨率指標。小焦斑X 射線管的研制,要求其在保證一定發(fā)射功率前提下,能夠連續(xù)穩(wěn)定工作;既滿足檢查小零件及高圖像分辨率方面需求,又能有效避免X 射線管因焦斑過小所造成的靶面燒傷;具有重大現(xiàn)實意義。通過對其結構設計、制造工藝及工作可靠性方面的深入研究,現(xiàn)已成功研制出/ 小焦斑X 射線管。測試表明:此研究產品在擁有小焦斑特性同時,具有相當?shù)母邏悍(wěn)定性。應用此研究,可開發(fā)系列小焦斑X 射線管。此產品的成功應用,有望促進X 射線檢測設備整體水平的提高。

  X 射線管的焦斑尺寸是決定X 射線管光學性能的主要指標。X 射線管作為X 射線檢查設備的發(fā)射源,其焦斑尺寸越小,對被檢物的影像清晰度就越高。焦斑為理想點光源時,圖像的邊界分明,幾何模糊程度小,影像分辨率高;焦斑越大,圖像邊界上的半影也越大,幾何模糊程度大,影像分辨率降低。X 射線機焦斑尺寸可分為:微焦斑、小焦斑、常規(guī)焦斑、大焦斑。其中,小焦斑通常定義為介于0.1~ 0.6 mm 之間;常規(guī)焦斑介于0.6~ 1.8 mm 之間。

  X 射線檢查設備最常用的是常規(guī)焦斑X 射線管,其陰極一般為螺旋燈絲結構。螺旋燈絲作為發(fā)射源要做的很小存在一定難度,而典型兩極結構X 射線管又存在電子束會聚能力有限問題。因此,采用常規(guī)螺旋燈絲陰極結構,實現(xiàn)小焦斑存在相當大的難度。

  通常用于X 射線安全檢查設備的X 射線管要求連續(xù)工作,焦斑尺寸太小,容易引起靶面燒傷。在實際工作中,一方面要求提高圖像分辨率;另一方面又不能因為焦斑太小造成靶面燒傷,降低X 射線產生效率。因此,研制適當?shù)男〗拱遆 射線管具有一定的現(xiàn)實意義?蓮V泛應用于X 射線光電子能譜(XPS) 儀對薄膜表面的準確分析及材料確定;也可廣泛應用于對微小物件及尺寸的無損檢測中。

1、小焦斑X 射線管的研究

  小焦斑X 射線管研究關鍵點是小焦斑、高穩(wěn)定性以及靶面散熱,主要包括下述幾方面內容:結構設計,工藝技術,工作可靠性。

1.1、小焦斑X射線管結構

  與常規(guī)X 射線管一樣,其基本結構為陰極、陽極、管殼、及散熱器。小焦斑X 射線管結構示意圖如圖1 所示。

小焦斑X 射線管結構示意圖

圖1 小焦斑X 射線管結構示意圖

  其典型結構特點如下所述:

  (1) V型燈絲結構方式

  在實際結構中,V型燈絲與下面提到的膜孔配合使用,V型燈絲能有效減小燈絲發(fā)射源發(fā)射面積,這是實現(xiàn)小焦斑的關鍵技術。圖2 為V型燈絲結構。

V型燈絲結構

圖2 V型燈絲結構

  (2) 矩形膜孔聚焦方式

  如圖3 所示,通過陰極罩矩形膜孔及會聚孔對V型燈絲尖端發(fā)射的電子束進行有效的會聚,最終實現(xiàn)電子束小面積著靶,這是實現(xiàn)小焦斑的第二個關鍵技術。

矩形膜孔陰極罩示意圖

圖3 矩形膜孔陰極罩示意圖

  (3) 創(chuàng)新的陽極結構設計

  如圖4 所示,為減少陽極結構對入射電子束的發(fā)散作用,在陽極帽結構設計中,采用小孔入射及縮短電子束入射孔到靶心距離的結構。為此用帶狀出射窗替代傳統(tǒng)圓形鈹窗輸出,并對陽極帽結構進行了改型設計。

陽極結構示意圖

圖4 陽極結構示意圖

1.2、成功經驗

  最初設計思路是:在現(xiàn)成熟管型結構基礎上,吸納微焦斑X 射線管專利設計理念進行設計。但發(fā)現(xiàn)存在不帶帽陽極易產生微放電,嚴重影響圖像質量問題。

  為解決微放電問題,陽極采用特殊陽極帽結構,在成功實現(xiàn)小焦斑同時,充分吸收二次電子,有效減少微放電發(fā)生幾率。

  在實際研制過程中發(fā)現(xiàn),燈絲相對于矩形膜孔裝配位置對焦斑影響很大,燈絲相對膜孔高度發(fā)生變化,其表面電場分布將發(fā)生急劇變化。如何保證燈絲相對膜孔對中及燈絲伸出膜孔高度的一致性,是實現(xiàn)小焦斑在工藝技術方面面臨的難題。

  通過采用新結構設計,并成功解決燈絲相對于膜孔的定位工藝技術,使試制樣管成功實現(xiàn)小焦斑輸出,并滿足高壓穩(wěn)定性需求。

1.3、陽極除氣

  在真空排氣工藝過程中,為達到使陽極充分去氣目的,通常采用濺射工藝。通過高速電子轟擊靶面,使陽極紅熱,放出吸附的大量氣體。由于濺射所需高壓裸露在空氣中,高壓不能加得很高,為有足夠的電子能量轟擊靶面,需提高電子發(fā)射束流。小焦斑X 射線管如按常規(guī)濺射除氣工藝,電子束能量過于集中,很容易造成靶面燒傷。并且提高發(fā)射束流,易使燈絲變形而與膜孔短接,造成管子報廢。

  由于陽極無氧銅不屬于鐵磁材料,難于在高頻感應場作用下產生渦流;而與管殼連接的可伐環(huán)屬鐵磁材料,極易感應到高頻加熱,導致管殼局部溫度過高而炸裂,所以也不能直接采用高頻加熱方法對陽極進行除氣。

  最終確定采用由鐵磁材料加工而成工裝與真空外陽極部分充分接觸,工裝感應后通過熱傳導方式,使陽極得到充分加熱,達到陽極除氣的目的。為對鎢靶進行充分除氣,在避免靶面燒傷的前提下,仍需適當對靶面進行電子束轟擊。小焦斑X 射線管陽極除氣,采用高頻輔助加熱與濺射工藝相結合的方法在實踐中得到了驗證。

1.4、工作可靠性

  影響X 射線管工作可靠性的主要因素是管子內部打火及微放電。X 射線管打火極易引起管殼擊穿,使設備整體癱瘓;X 射線管微放電,極大影響圖像質量。

  正如前述,為減少微放電發(fā)生的幾率,采用新型陽極帽結構。在新型開槽結構陽極帽上,采用對射線固有濾過影響少、易于加工的薄鈦帶作為出射窗。經試驗表明:采用此陽極帽結構能夠有效減少微放電。采用新陽極帽結構,雖然成功解決管子微放電問題,但其高壓工作可靠性卻存在很大隱患,曾發(fā)生多次樣管管殼打火擊穿現(xiàn)象。

  管殼擊穿主要原因是管殼上積累的二次電子沿陽極區(qū)管殼向陽極可伐環(huán)爬電所致。新陽極帽結構縮短了陽極區(qū)管殼的絕緣距離,以致造成陽極區(qū)管殼電位梯度增大,加大了二次電子沿管殼內壁爬電的幾率,使陽極可伐環(huán)處管殼易于擊穿。分析高壓擊穿報廢樣管表明:擊穿部位均發(fā)生在靠近可伐環(huán)的管殼處。

  根據(jù)管殼高壓絕緣設計經驗,陽極區(qū)管殼電位梯度只有控制在一定的范圍內,X 射線管才能穩(wěn)定可靠地工作。為此,采用加長的陽極靶組件設計,降低陽極區(qū)管殼電位梯度,從而提高了X 射線管工作的可靠性。

  測試表明:經改型設計后的新管型,連續(xù)長時間工作的高壓特性穩(wěn)定性好,可靠性高,能夠滿足實時圖像檢測設備的要求。

1.5、靶最大熱負荷計算

  X 射線管焦斑過小,在陽極靶面單位面積上入射的電子能量很大,極易造成靶面燒傷。固定靶容許負荷主要是由電子轟擊而使靶面軟化的溫度決定的。X 射線管功率與焦斑大小存在一定的關系。

  在焦斑設計指標一定前提下,X 射線管的最大輸出功率有一定限制。假定小焦斑X 射線管焦斑設計指標為標稱值:0.2,通過計算可知:小焦斑X 射線管最大容許輸出功率為216 W。具體計算過程,可參考文獻固定靶的焦點亮度0章節(jié)的計算方法。

  而小焦斑X 射線管的設計指標是最高工作電壓160 kV、最大陽極電流016 mA,即最大連續(xù)功率為96 W。從理論上說,此管長期連續(xù)工作也不會造成靶面燒傷。實際解剖樣管觀測:靶面情況良好,未發(fā)現(xiàn)靶面燒傷現(xiàn)象,驗證了/ 靶最大負荷0計算的可信度。

2、整機對比測試

  為驗證焦斑特性對整機的影響,利用平板圖像探測器及標準測試卡進行分辨率對比測試。進行對比測試的常規(guī)X 射線管及小焦斑X 射線管實測焦斑如圖5 所示。

焦斑對比圖

圖5 焦斑對比圖

  測試中將測試卡與成像板設定為某一距離,同樣條件下測試圖像如圖6 所示。測試表明:與常規(guī)X 射線管相比,采用此小焦斑X 射線管能明顯提高線對分辨率。

不同焦斑成像分辨率對比

圖6 不同焦斑成像分辨率對比

3、總結

  通過深入研究,已成功研制出符合設計指標的產品。樣管在擁有小焦斑特性同時,具有相當?shù)母邏悍(wěn)定性。應用此研究成果,可開發(fā)系列小焦斑X射線管,為高端X 射線安檢設備的開發(fā)創(chuàng)造了條件。