鍍膜技術(shù)對(duì)金屬薄膜性能與制備氫化物薄膜的影響

2013-12-14 萬竟平 中國(guó)工程物理研究院核物理與化學(xué)研究所

  分析了熱蒸發(fā)、濺射和脈沖激光沉積三種鍍膜技術(shù)鍍金屬薄膜的性能特點(diǎn)。根據(jù)文獻(xiàn)報(bào)道數(shù)據(jù),研究了三種鍍膜技術(shù)鍍金屬薄膜的成膜機(jī)理、晶格參數(shù)、膜力學(xué)性能的差別。脈沖激光沉積鍍膜易按層與層疊加方式成膜,薄膜應(yīng)力小,缺陷少,晶格尺寸大,而熱蒸發(fā)和濺射鍍膜多按三維島式生長(zhǎng)成膜,薄膜應(yīng)力較大,因應(yīng)力誘發(fā)較多缺陷與位錯(cuò),晶格尺寸相對(duì)要小。脈沖激光沉積粒子能量高,能夠?qū)崿F(xiàn)氫化物一步成膜,薄膜性能更佳。脈沖激光沉積技術(shù)更有利于制備聚變應(yīng)用的金屬氫化物薄膜。

  氫能源是人類未來賴以生存的能量來源,氚和氘是聚變能開發(fā)利用的燃料,也是產(chǎn)生中子源的材料。儲(chǔ)氫材料(金屬及其合金氫化物),長(zhǎng)期以來一直是研究的熱門領(lǐng)域。金屬薄膜及其氫化物薄膜在核能開發(fā)、核材料制備、中子發(fā)生器研制、高效催化劑與新材料的研究等領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用。金屬鉺、鈦、鋯等的氫化物(氘化物、氚化物),具有較低的氫平衡壓、較高的儲(chǔ)氫容量,常被用于制造中子發(fā)生器與中子管,即一定厚度的氫化物薄膜附著在基材之上,提供離子源或作為產(chǎn)生(D,T)或(D,D)聚變的靶。而氫化物薄膜又是金屬薄膜經(jīng)過吸氫氫化而來,金屬薄膜(氫化物薄膜)的制作工藝、膜的性能、膜生長(zhǎng)機(jī)理、膜微觀結(jié)構(gòu)與組織形態(tài)及膜與氫的相互作用行為決定著氫化物薄膜的性能與品質(zhì),同時(shí)決定了中子發(fā)生器與中子管的性能、穩(wěn)定性、可靠性及壽命。

  熱蒸發(fā)(包括電子槍和電阻)沉積、濺射沉積和脈沖激光沉積(PLD)三種技術(shù)都廣泛用于研制金屬薄膜。但由于三種沉積技術(shù)因成膜速率和沉積粒子能量的不同,導(dǎo)致薄膜成膜機(jī)理和膜性能產(chǎn)生較大差別。熱蒸發(fā)沉積和濺射沉積的成膜速率高,粒子

  能量低,薄膜多按三維島式生長(zhǎng),在島-島界面存在孔洞和堆垛位錯(cuò),薄膜的應(yīng)力較大。PLD成膜速率低,而粒子能量高,所鍍薄膜則易按層-層疊加方式生長(zhǎng),薄膜應(yīng)力小。對(duì)于制備金屬氫化物薄膜,PLD具有技術(shù)優(yōu)勢(shì),層-層疊加方式生長(zhǎng)的薄膜,薄膜的粘附力強(qiáng),應(yīng)力小,薄膜的使用性能更好。

1、熱蒸發(fā)、濺射和PLD制備金屬薄膜的技術(shù)特點(diǎn)

  熱蒸發(fā)、濺射和PLD三種技術(shù)對(duì)靶材料蒸發(fā)方式的不同,致使三種鍍膜技術(shù)具有各自的技術(shù)特點(diǎn),也對(duì)薄膜的性能產(chǎn)生不同影響。

  熱蒸發(fā)是在真空條件下,通過對(duì)靶材料進(jìn)行加熱,使靶材料受熱蒸發(fā),蒸發(fā)粒子不帶電,能量通常小于1eV,沉積的薄膜為多孔的柱狀結(jié)構(gòu)。

  濺射鍍膜是通過荷能粒子轟擊靶材料,使靶材料原子濺射出來,然后在底襯上沉積成膜。濺射沉積粒子能量通常為幾個(gè)電子伏特,沉積的薄膜致密牢固,柱狀結(jié)構(gòu)得到抑制,但在薄膜中會(huì)含有一定量的轟擊粒子物質(zhì)(氦等)。

  PLD通過高能激光轟擊靶材料,使靶材料近表面層在納秒或飛秒時(shí)間范圍內(nèi)燒蝕,蒸發(fā)為等離子體羽輝,然后在底襯上沉積為膜。以KrF脈沖激光為例(波長(zhǎng)248nm),一次脈寬為30ns的脈沖激光,可以使深度在10~20nm的金屬原子受熱激發(fā)成等離子體羽輝,并在激光的加熱下,等離子體羽輝的最高溫度可達(dá)10000K,在激光脈沖結(jié)束時(shí),等離子體羽輝的溫度在4000~5000K之間。等離子體羽輝組成復(fù)雜,由原子、離子、電子、原子與離子團(tuán)簇等組成,粒子速率可達(dá)105cm/s量級(jí),平均粒子能量約為100eV。粒子能量與激光的能量密度密切相關(guān),并對(duì)金屬薄膜的生長(zhǎng)及膜的性能產(chǎn)生重大影響。

  從沉積成膜速率看,熱蒸發(fā)沉積成膜速率最高,電阻蒸發(fā)鍍膜速率一般為5nm/s,濺射沉積的成膜速率為每秒零點(diǎn)幾納米。PLD的成膜速率最慢,為每次脈沖0.0001~0.05nm,按最大脈沖頻率(50Hz)計(jì)算,成膜速率一般不超過0.1nm/s。在膜層組成上,PLD所鍍薄膜純度高,無雜質(zhì)污染,并與靶具有相同的成分組成,具有很高的保成分組成的性能。而熱蒸發(fā)鍍膜易受蒸發(fā)源材質(zhì)的污染,濺射鍍膜也會(huì)引入轟擊粒子物質(zhì)。因蒸發(fā)溫度與濺射閾值的不同,熱蒸發(fā)與濺射鍍膜易產(chǎn)生成分的分餾,使膜層的成分與靶的成分產(chǎn)生差異。

4、三種鍍膜技術(shù)在制備氫化物薄膜中的應(yīng)用

  目前,制備氫化物薄膜一般采用濺射和熱蒸發(fā)(包括電阻鍍膜和電子槍鍍膜)兩種技術(shù),先制成一定厚度的金屬薄膜,然后將薄膜加熱到一定溫度(一般250~400℃),經(jīng)過吸氫制成氫化物膜,即氫化物薄膜的制備由鍍膜和氫化兩步工藝組成。金屬薄膜在吸氫過程中,因?yàn)榇嬖谙嗟淖兓,金屬由bcc或Hcp結(jié)構(gòu)變成氫化物的fcc結(jié)構(gòu),晶格發(fā)生膨脹,導(dǎo)致氫化物膜產(chǎn)生腫脹,不僅降低膜的力學(xué)性能,而且還會(huì)削弱膜與基材之間的粘附能力。以氫鈦體系為例,鈦膜吸氫后體積膨脹率超過15%。電子束蒸發(fā)制備的LaMg2Ni合金薄膜氫化前后表面形貌分析也證實(shí),薄膜氫化前表面連續(xù)平整,而在氫化后,薄膜表面變得凹凸不平,并有顆粒團(tuán)聚的現(xiàn)象,是由于薄膜吸氫后體積膨脹所造成的。

  其次,對(duì)于金屬氚化物膜,因氚衰變產(chǎn)生的氦(3He)在氚化物膜中集聚并緩慢釋放,當(dāng)3He量達(dá)到某一臨界值后,3He釋放速率呈數(shù)量級(jí)增加,同時(shí),3He也會(huì)引起氚化物晶格再次發(fā)生腫脹,在氚靶時(shí)效的最初3個(gè)月內(nèi),因3He的產(chǎn)生又會(huì)引起氚化鈦晶格體積至少膨脹10%,氫化和3He引發(fā)的雙重膨脹必然會(huì)導(dǎo)致氚化物薄膜與基材之間的粘附能力大大降低。

  PLD鍍膜技術(shù)在成膜機(jī)理與薄膜性能方面所具有的不同于熱蒸發(fā)和濺射兩種鍍膜技術(shù)的特性,使其在氫化物薄膜制備中具備潛在的技術(shù)優(yōu)勢(shì)。利用PLD背景氣氛鍍膜控制技術(shù),以氫氣作為反應(yīng)氣體,氫氣與金屬等離子體羽輝中的高能粒子在氣相中先反應(yīng)形成金屬氫化物,然后在基材上成膜,變成氫化物薄膜,即氫化和鍍膜一步完成。這樣可以消除金屬膜在氫化過程中因晶格膨脹而引起的膜性能降低,增強(qiáng)了膜與基體的粘附能力,最大幅度提高薄膜的使用性能。

  因PLD制成的膜的晶格尺寸比熱蒸發(fā)沉積鍍膜和濺射鍍膜所制成的膜的晶格尺寸大,如果制備氚化物膜,應(yīng)用PLD技術(shù)更加有利,更有利于薄膜固氦,減少氦的釋放。因?yàn),晶格尺寸越大,不僅氚化物的穩(wěn)定性增強(qiáng),而且晶胞中能夠捕陷更多的間隙氦原子,使氚化物膜的固氦能力增大。

  PLD制成的膜具有較小的應(yīng)力與較少的缺陷,而且應(yīng)力還可進(jìn)行調(diào)節(jié),提高了薄膜的力學(xué)性能,薄膜的穩(wěn)定性與牢固性,可以增強(qiáng)薄膜抗環(huán)境影響的能力,對(duì)于制備用作(D,T)或(D,D)反應(yīng)的密封中子管靶材料,PLD制成的氫化物薄膜無疑具有更大的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)。

5、展望

  熱蒸發(fā)、濺射和PLD三種鍍膜技術(shù)在技術(shù)性能上的差別,決定了成膜機(jī)理與薄膜性能方面產(chǎn)生差異,導(dǎo)致它們的應(yīng)用也有所不同,尤其在金屬氫化物薄膜的研制方面。PLD的氣相沉積粒子能量高,H2反應(yīng)沉積可望實(shí)現(xiàn)金屬氫化與氫化物一步成膜,能夠消除傳統(tǒng)技術(shù)制備的金屬膜在氫化過程中因晶格膨脹而引起的膜性能降低。加之,層-層疊加的薄膜生長(zhǎng)方式,使得薄膜具有更好的膜層結(jié)構(gòu)、界面結(jié)構(gòu)及更佳的力學(xué)性能,薄膜應(yīng)力小,缺陷少,晶格尺寸大,薄膜與基體的粘附能力、穩(wěn)定性及固氦能力強(qiáng),對(duì)于研制純度要求高,使用環(huán)境苛刻,薄膜綜合性能要求嚴(yán)苛的用作核靶的氫化物薄膜(氘化物與氚化物薄膜),PLD鍍膜技術(shù)更具有技術(shù)優(yōu)勢(shì)。