航天510所“高精度微小氣體流量測量新技術(shù)及應(yīng)用”獲國家技術(shù)發(fā)明二等獎
隨著我國航天、核工業(yè)等領(lǐng)域快速發(fā)展,對微小氣體流量的精確測量提出了迫切需求。不論是月球樣品封裝裝置中用到的真空漏率測量,還是載人飛船艙門檢漏中用到的正壓漏率測量,均與高精度微小氣體流量測量技術(shù)密不可分。針對以上需求,航天510所通過十余年的持續(xù)研究,提出了微小氣體流量測量、真空漏率測量、正壓漏率測量等新方法,并取得重大創(chuàng)新與突破。
發(fā)明了基于非蒸散型吸氣劑技術(shù)的固定流導(dǎo)法測量微小氣體流量的方法,將測量下限延伸至10-16 Pa·m3/s量級國際最好水平。2014年,由國際真空科學(xué)技術(shù)與應(yīng)用聯(lián)合會等25家單位聯(lián)合發(fā)表在國際權(quán)威期刊《物理學(xué)報》上的一篇綜述性文章“真空科學(xué)與應(yīng)用技術(shù)新進(jìn)展”中,將這項(xiàng)工作作為真空科學(xué)應(yīng)用領(lǐng)域的一項(xiàng)最新成就進(jìn)行了引用報道。
發(fā)明了靜態(tài)累積比較法測量極小真空漏率的方法,解決了月球樣品封裝裝置極小漏率精確測量難題,為成功研制滿足漏率小于5×10-11 Pa·m3/s的月球樣品封裝裝置做出了重要貢獻(xiàn),這是探月三期采樣返回的核心指標(biāo)。
發(fā)明了壓力鋸齒波動恒壓法測量正壓漏率的方法,建立了我國首臺恒壓法正壓漏率測量裝置,下限達(dá)到10-8 Pa·m3/s量級,解決了載人飛船艙門快速檢漏儀的精確校準(zhǔn)難題。
相關(guān)成果共獲授權(quán)國家發(fā)明專利37項(xiàng),其中4項(xiàng)核心專利獲中國專利優(yōu)秀獎。在國內(nèi)外權(quán)威學(xué)術(shù)刊物發(fā)表論文116篇,出版《真空計量新技術(shù)》專著一部。相關(guān)成果獲省部級一等獎3項(xiàng)、二等獎2項(xiàng)。
團(tuán)隊負(fù)責(zé)人李得天研究員在人民大會堂召開的國家科學(xué)技術(shù)獎勵大會現(xiàn)場