溫度變化對正壓漏孔校準(zhǔn)裝置本底漏率的影響實驗研究

馮焱，張瑞芳，盛學(xué)民，董猛

(蘭州空間技術(shù)物理研究所，甘肅 蘭州 730000)

　　摘要：在實驗室條件下，由于溫度變化引起正壓漏孔校準(zhǔn)裝置本底漏率的變化是影響正壓漏孔校準(zhǔn)下限的主要因素，因此為盡可能減小溫度對正壓漏孔校準(zhǔn)的影響，采用水浴恒溫技術(shù)，利用主動恒溫與被動恒溫相結(jié)合的方式進(jìn)行恒溫。

　　實驗證明，在未采取恒溫措施的情況下，正壓漏孔校準(zhǔn)裝置的本底漏率為10^-8 Pa •m³/s 量級，而在采用恒溫措施后，本底漏率下降到10^-9 Pa •m³/s 量級，且從實驗標(biāo)準(zhǔn)偏差可以看出采取恒溫措施后的本底漏率穩(wěn)定性更好。測量本底漏率后，采用壓力鋸齒波動恒壓法對一支標(biāo)稱漏率為10^-8 Pa •m³/s 的正壓漏孔進(jìn)行校準(zhǔn)實驗。

　　經(jīng)過多次實驗證明，采取恒溫措施后，實現(xiàn)了正壓漏孔最小漏率為2.667×10^-8 Pa •m³/s 的校準(zhǔn)。

　　關(guān)鍵詞：正壓漏孔; 恒溫實驗;水浴恒溫;本底漏率