壓縮式真空計(jì)的常用的三種測(cè)量刻度
根據(jù)測(cè)量時(shí)選定水銀面的基準(zhǔn)線位置的不同,壓縮式真空計(jì)的刻度方法分為下面三種。
1、無(wú)定標(biāo)刻度法
即在測(cè)量時(shí),將水銀面提升到任意位置固定下來(lái),如下圖的位置,分別測(cè)出h1和h2值,代入基本方程式就可計(jì)算出待測(cè)壓力值p,這種方法稱為無(wú)定標(biāo)刻度法。此法多用于作為標(biāo)準(zhǔn)計(jì)校對(duì)其他相對(duì)真空計(jì)的場(chǎng)合。
2、平方刻度法
在測(cè)量時(shí),將比較毛細(xì)管中水銀面提升到與測(cè)量毛細(xì)管內(nèi)頂端同一水平線(基準(zhǔn)線)上,即此時(shí)h2=0,則基本方程式可寫成
p=Kh2
可見壓力p與水銀面高度差h的平方成正比,所以此法稱為平方刻度法。
3、直線刻度法
在測(cè)量時(shí),將水銀面提升到測(cè)量毛細(xì)管上某一位置(此位置作為基準(zhǔn)線),即h1 =常數(shù),則基本方程式寫成
p=K·h1·h=Klineh
式中Kline為直線刻度真空計(jì)常數(shù),單位為Pam-1。所以p與水銀液面高度差h成直線關(guān)系,故稱為直線刻度法。
在刻度過(guò)程中,h1可選其等于任意值,選定一個(gè)值(一條基準(zhǔn)線))就可有一對(duì)應(yīng)的刻度尺。因此,同一臺(tái)壓縮式真空計(jì)可同時(shí)選定幾個(gè)h1值,對(duì)應(yīng)地就有幾個(gè)不同的刻度尺。