極高真空校準(zhǔn)室內(nèi)殘余氣體的成分分析

2010-03-05 成永軍 蘭州物理研究所,真空低溫技術(shù)與物理國家級重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

  用四極質(zhì)譜計(jì)316L不銹鋼制作的極高真空(XHV) 校準(zhǔn)室在烘烤前、后的殘余氣體成分進(jìn)行了分析。一個(gè)熱陰極電離規(guī)( IE514) 和一個(gè)四極質(zhì)譜計(jì)(QMS200) 連接在XHV 校準(zhǔn)室上。烘烤前,開、關(guān)熱陰極電離規(guī)以及對其進(jìn)行除氣,放出的氣體主要有H2O、CO、H2、CH4 和CO2 。烘烤后,開、關(guān)熱陰極電離規(guī)以及對其進(jìn)行除氣,放出的氣體主要有CO、H2 、CO2 和CH4 。整個(gè)烘烤過程完成后2h ,XHV 校準(zhǔn)室內(nèi)的壓力在室溫下通過分子泵串聯(lián)抽氣機(jī)組抽至8.97 ×10- 9Pa ,用四極質(zhì)譜計(jì)分析到的殘余氣體成分主要為H2 和CO。整個(gè)烘烤過程完成后4h ,打開非蒸散型吸氣劑泵(NEGP) 對XHV 校準(zhǔn)室抽氣,結(jié)果表明NEGP對H2 具有較大的抽速,但對碳?xì)漕惢衔?如CH4) 和惰性氣體幾乎沒有抽速。用NEGP 對XHV 校準(zhǔn)室連續(xù)抽氣72h 后,XHV校準(zhǔn)室內(nèi)的壓力從8.34 ×10 - 9 Pa 下降到9.12 ×10 -10 Pa。不銹鋼XHV 校準(zhǔn)室內(nèi)的殘余氣體成分中大量的CO 和CO2 主要來自于四極質(zhì)譜計(jì)。

  極高真空(XHV) 范圍定義為低于10 -9 Pa 的壓力范圍。XHV 在空間技術(shù)、表面科學(xué)、高能粒子加速器、真空微電子技術(shù)等近代尖端科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。例如,月球表面的真空度最高可達(dá)10 - 10 Pa ,為了開發(fā)和利用月球資源,首先需要建立一些壓力為10 -10 Pa 的空間環(huán)境模擬容器,來研究XHV環(huán)境下的冷焊、摩擦、潤滑等物理現(xiàn)象;在高能粒子加速器中,為了延長束流的壽命,需要儲存環(huán)內(nèi)達(dá)到10 -9 Pa 的XHV;在表面分析中,為了減小表面的污染,需要提供一個(gè)極為潔凈的超高/極高真空(UHV/XHV) 環(huán)境。

  要獲得XHV ,降低真空系統(tǒng)制作材料的出氣率尤為重要。極高真空容器常用不銹鋼、鋁合金、銅、鈦等材料加工制作而成,通?刹捎孟铝蟹椒ń档统鰵饴 :

  a) 高溫真空烘烤降低材料中溶解的H2 、CO 等氣體含量;

  b) 對真空系統(tǒng)進(jìn)行在線烘烤(150 ℃~450 ℃) ,烘烤時(shí)保持溫度盡可能均勻;

  c) 進(jìn)行表面處理以降低表面粗糙度和清除多孔氧化物,包括電拋光、特殊條件下表面加工、輝光放電清洗等;

  d) 通過表面處理在表面上形成氧化層或其它薄膜以阻擋H2 、CO 等氣體的擴(kuò)散;

  e) 在金屬基底上沉積H2 滲透率低的薄膜,如TiN 或BN 薄膜;

  f) 選擇H2 溶解性低的材料,如銅。

  當(dāng)然,獲得XHV僅靠降低真空系統(tǒng)的出氣率是不夠的,還需要對真空系統(tǒng)的殘余氣體成分進(jìn)行分析,根據(jù)分析結(jié)果配置相應(yīng)的真空泵 ,有選擇性地進(jìn)行抽氣,這樣更有利于XHV 的獲得。2000 年以來,國外一些科研機(jī)構(gòu)就不銹鋼材料在XHV中釋放出的殘余氣體成分進(jìn)行了深入分析,獲得了大量實(shí)驗(yàn)研究數(shù)據(jù),并在國際學(xué)術(shù)期刊和會議上進(jìn)行了多次報(bào)道 。

  2006 年,蘭州物理研究所建立了我國第一臺UHV/XHV校準(zhǔn)裝置,XHV校準(zhǔn)室采用316L不銹鋼加工制作,采用非蒸散型吸氣劑泵(NEGP) 和磁懸浮渦輪分子泵抽氣, 獲得了10 -10 Pa 的極限真空度。本文對316L 不銹鋼XHV校準(zhǔn)室內(nèi)的殘余氣體成分在烘烤前、后進(jìn)行了質(zhì)譜分析,對熱陰極電離規(guī)和四極質(zhì)譜計(jì)對XHV校準(zhǔn)室內(nèi)的殘余氣體成分的影響作了分析,對NEGP 在XHV下的抽氣特性進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)研究。

1、實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

  實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)主要由真空室、抽氣單元、壓力測量單元以及烘烤單元4 部分組成,原理結(jié)構(gòu)見圖1。

  真空室為ª0.25m 的柱形容器,主體由極高真空(XHV)校準(zhǔn)室(10)和抽氣室(7)組成,采用真空熔煉的SUS316L 不銹鋼制作,內(nèi)表面先進(jìn)行電拋光處理,然后進(jìn)行嚴(yán)格的超高真空清洗工藝處理,安裝前再將其放入真空高溫爐中烘烤除氣。XHV 校準(zhǔn)室與抽氣室之間設(shè)計(jì)了限流小孔(9), 小孔直徑為0.033m。抽氣單元由MAG2200 CF250 磁懸浮渦輪分子泵(4)、TW70H63CF 分子泵(2)、Ecodry干泵(1)以及2個(gè)CapaciTorr-B1300-2 非蒸散型吸氣劑泵(5)和(12)組成。壓力測量單元主要由2 個(gè)熱陰極電離規(guī)和1 個(gè)四極質(zhì)譜計(jì)組成。2 個(gè)熱陰極電離規(guī)(14、8) 分別安裝在XHV 校準(zhǔn)室和抽氣室上。熱陰極電離規(guī)的參數(shù)見表1。四極質(zhì)譜計(jì)QMS200(11)連接在XHV校準(zhǔn)室上,用于殘余氣體分析。烘烤單元由真空容器烘烤套、溫度控制與監(jiān)測系統(tǒng)兩部分組成。

  真空容器烘烤套是由鎳鉻絲加熱器和玻璃纖維絕熱層共同縫制而成。烘烤套是根據(jù)不同的真空室的形狀縫制而成, 裝拆方便, 加熱絲根據(jù)所需功率大小均勻分布于加熱套內(nèi),這樣能夠保證在同一個(gè)加熱套內(nèi)真空室壁上的溫度分布均勻。烘烤單元能夠自動完成全部烘烤過程。

用于測量殘余氣體成分的XHV系統(tǒng)原理圖

圖1  用于測量殘余氣體成分的XHV系統(tǒng)原理圖

表1  熱陰極電離規(guī)參數(shù)

2、實(shí)驗(yàn)方法與結(jié)果

2.1、四極質(zhì)譜計(jì)工作參數(shù)的選擇

  采用瑞士BALZERS 公司生產(chǎn)的QMS200 作為殘余氣體分析儀。SEM 電壓取1400V , 發(fā)射電流取2mA ,分辨率取25 ,陰極電壓取100V ,聚焦電壓取8V。

2.2、烘烤前XHV校準(zhǔn)室中的殘余氣體

  先通過分子泵抽氣機(jī)組將XHV 校準(zhǔn)室抽至極限真空, 極限壓力約為1.32 ×10 - 6 Pa 。打開QMS200 ,待穩(wěn)定后分析烘烤前XHV 校準(zhǔn)室中的殘余氣體成分,如圖2。

烘烤前XHV校準(zhǔn)室內(nèi)的殘余氣體譜圖

圖2  烘烤前XHV校準(zhǔn)室內(nèi)的殘余氣體譜圖

  在圖2 中,M/e = 18 峰最高,是H2O。這是因?yàn)榘惭b于XHV 校準(zhǔn)室上的主標(biāo)準(zhǔn)器磁懸浮轉(zhuǎn)子規(guī)(SRG) 之前拆卸后送檢,校準(zhǔn)室暴露在空氣中將近一個(gè)月,器壁吸附了大量的水蒸氣,在抽空時(shí)不斷地解吸出來。M/ e = 2、44 為H2 和CO2 。M/ e = 28 峰是CO 和N2 的混合物,但主要是N2 ,因?yàn)樵诖髿庵泻写罅康腘2 ,CO 的含量很少,因此沒有發(fā)生化學(xué)反應(yīng)的真空系統(tǒng)殘氣中28 峰主要是N2 。M/ e = 12、14
為CO 和N2 的碎片峰。M/ e = 16 是CH4 ,由于碳、氫在質(zhì)譜計(jì)和電離規(guī)熱燈絲的表面作用下形成的。M/ e = 1、17 分別為H2 和H2O 的碎片峰。