高真空閥門(mén)漏率和升壓率的區(qū)別
眾所周知,任何一種真空設(shè)備包括極高真空設(shè)備,都存在著氣體通過(guò)器壁、微孔從高壓力區(qū)向低壓力區(qū)滲透即漏氣的現(xiàn)象,絕對(duì)不漏的真空設(shè)備是不存在的。所謂的“漏”,必須和設(shè)備的最大允許漏量相聯(lián)系。只要將漏氣控制在設(shè)備允許的范圍內(nèi),則認(rèn)為是合理的、經(jīng)濟(jì)的。不同的真空設(shè)備對(duì)漏氣量的要求是不同的,因此最大允許漏量也不一樣。漏率和升壓率是用于檢測(cè)真空設(shè)備密封性的兩個(gè)重要參數(shù)。漏率是在規(guī)定條件下處于高壓力(或高濃度)下的氣體在單位時(shí)間內(nèi)通過(guò)漏孔流向低壓力端(或低濃度端) 的氣體量,分為動(dòng)態(tài)漏率和靜態(tài)漏率。升壓率是通過(guò)被抽容器與真空泵隔離后測(cè)定隨時(shí)間的增加而升高的壓力值來(lái)確定的,是一個(gè)靜態(tài)的概念。
升壓率除了氣體通過(guò)焊縫、密封件、材料本體向設(shè)備內(nèi)部滲透的漏率外,還包括設(shè)備內(nèi)部各器件本身的吸附氣體的解吸和其它物質(zhì)(如油、脂) 的蒸汽壓。因此兩個(gè)概念是不同的,漏率包含于升壓率,其值只是升壓率的一部分。實(shí)際測(cè)量過(guò)程中,往往用升壓率來(lái)檢測(cè),并把升壓率與被測(cè)容積相乘作為漏率。
在一定范圍這種轉(zhuǎn)化是允許的、可行的,但超過(guò)適用范圍,會(huì)發(fā)生數(shù)值嚴(yán)重背離的現(xiàn)象,即升壓率達(dá)到指標(biāo),但轉(zhuǎn)化后的漏率卻大得不可思議。
下面以我公司高真空氣動(dòng)擋板閥為例,通過(guò)計(jì)算結(jié)果來(lái)說(shuō)明漏率和升壓率的差異,指出主要影響因素,并推而廣之。
1、閥門(mén)參數(shù)
表1 給出了GDQ-J 系列閥門(mén)各參數(shù)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。為便于觀察各參數(shù)的變化趨勢(shì),同時(shí)給出了變化趨勢(shì)圖(見(jiàn)圖1) 。從曲線可看出,閥門(mén)密封圈總長(zhǎng)和焊縫總長(zhǎng)的增幅遠(yuǎn)小于閥門(mén)內(nèi)表面積和容積的增長(zhǎng)。
表1 閥門(mén)參數(shù)表
圖1 閥門(mén)參數(shù)變化曲線
2、漏率計(jì)算
本文論及的漏率主要包括大氣通過(guò)密封圈和焊縫向真空側(cè)的漏氣量,沒(méi)有把氣體通過(guò)閥體材料滲入閥體內(nèi)部的氣體計(jì)算在內(nèi)。
2.1、密封圈的漏率計(jì)算
漏率計(jì)算以Roth 關(guān)于單橡膠密封圈的密封過(guò)程基本方程為準(zhǔn)。
式中 C ———氣體從環(huán)形密封界面流過(guò)的總流導(dǎo)
F ———密封過(guò)程橡膠圈所受到的壓緊力
q ———漏率
T ———以絕對(duì)溫標(biāo)表示的氣體溫度
M ———氣體分子的分子量
R0 ———環(huán)形密封界面的外徑
R1 ———環(huán)形密封界面的內(nèi)徑
A ———密封表面等邊角錐的峰谷高度值
L ———環(huán)形界面的總長(zhǎng)度
w ———橡膠圈表面接觸寬度
R ———密封系數(shù),與密封材料有關(guān)的常數(shù)
Cr ———橡膠圈的壓縮比
E ———橡膠材料的楊氏模量
ΔP ———密封界面兩側(cè)的壓力差
不失一般性,計(jì)算結(jié)果滿(mǎn)足下列前提:大氣為標(biāo)態(tài)環(huán)境(壓力1. 013 ×105 Pa 、溫度293 K、相對(duì)濕度65 %) ;密封材料為丁腈的“O”形圈;密封圈內(nèi)徑在10~300 mm , 壓縮比取0. 25 , 內(nèi)徑在300 ~1200 mm ,壓縮比取0. 3 ;密封面粗糙度為Ra1. 6 ;計(jì)算值為密封圈對(duì)空氣的漏率。